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IRTP-150LS测量目标发射的红外辐射强度计算出物体的表面温度IRTP-150LS温度传感器广泛,适应能力强,用于各种生产线上固定安装检测用非接触温度测量
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IRTP-150LS红外线测温仪 IRTP-150LS红外测温传感器
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应用:各种生产线上固定安装检测用非接触温度测量,手持式工业测温仪:轴承温度测量:电气设备:电缆接头、开关柜、变压器和电气面板的故障监测等:汽车、微波炉、空调、燃气灶具等产品
IRTP-150LS技术参数:
型 号:IRTP-150LS
测温范围:0-150℃
测温精度:±0.5%或±1℃
环境温度:0-50℃
储存温度:-20—80℃
响应时间:30ms
距离系数:20 / 1
电 源:24VDC 5VDC
尺 寸:Φ18mmX 110mm (L)
信号输出:标准4-20mA
红外测温仪测量时不与被测物体直接接触,因而不存在摩擦,并且有灵敏度高,响应快等优点。 利用红外线的物理性质来进行测量的传感器。红外线又称红外光,它具有反射、折射、散射、干涉、吸收等性质。任何物质,只要它本身具有一定的温度(高于零度),都能辐射红外线。
IRTP-150LS温度传感器
型号 | 量程输出 | 距离系数 | 采样速度 |
IRTP-100LS | 0~100℃,4~20mA | 20:1 | 15ms |
IRTP-150LS | 0~150℃,4-20mA | 20:1 | 15mS |
IRTP-200LS | 0~200℃,4-20mA | 20:1 | 15mS |
IRTP-300LS | 0~300℃,4-20mA | 20:1 | 15mS |
IRTP-500LS | 0~500℃,4-20mA | 20:1 | 15mS |
IRTP-500TLS | 0~500℃,4-20mA | 20:1 | 8mS |
IRTP-1000LS | 0~1000℃,4-20mA | 20:1 | 30mS |
红外测温仪原理
测温传感器是利用辐射热效应,使探测器件接收辐射能后引起温度升高,进而使传感器中一栏与温度的性能发生变化。检测其中某一性能的变化,便可探测出辐射。多数情况下是通过赛贝克效应来探测辐射的,当器件接收辐射后,引起一非电量的物理变化,也可通过适当变化变为电量后进行测量。